Universitat Rovira i Virgili

Microscòpia electrònica de rastreig de pressió variable (ESEM) amb microanàlisi de raigs-X

Aquest microscopi, Quanta 600 de FEI Company, utilitza un feix d'electrons per formar la imatge. Es caracteritza per l'alta resolució (3 nm) i la gran profunditat de camp que permet enfocar diferents alçades de la mostra al mateix temps. Degut a la interacció electró-matèria, es produeixen diferents senyals que permeten obtenir diferents resultats: imatge topogràfica, imatge de contrast per número atòmic, espectrometria de dispersió d'energia de raigs X, etc. 

Amb els tres modes de pressió, que van des de 10-5 mbar fins a 26 mbar (2600 Pa), es poden estudiar mostres conductores, no conductores i materials incompatibles amb el buit elevat, amb una resolució de 3 nm en tot els tres rangs de pressió. Juntament amb la platina Peltier, de -20 ºC a 50 ºC, permet fer estudis d'humitat. També està equipat amb una forn fins a 1500 ºC, la qual cosa permet fer estudis amb rampes de temperatura, a més a més amb possibilitat de connexió de gasos inerts. Amb el detector Wet STEM es poden mirar reixetes del TEM que necessitin mantenir la humitat en la mostra sense necessitat de fixació, deshidratració ni inclusió. 

Tipus de mesures:

Pujar


RESERVA

*Ja t’has donat d’alta al Portal de l'Usuari?