Universitat Rovira i Virgili

Microscopi electrònic de transmissió de resolució atòmica (FETEM)

El JEOL F200 és un microscopi electrònic de transmissió (TEM en anglès) que permet un gran ventall d'aplicacions. Gràcies a la seva tecnologia d'avantguarda en el camp de la microscòpia electrònica, el F200 és el microscopi ideal tant per caracteritzacions de mostres de ciències de materials com de ciències de la vida.

El seu sistema condensador de 4 lents proporciona una gran flexibilitat en les condicions d'il·luminació; un control independent de la mida del feix electrònic i l'angle de convergència. D'aquesta manera, el microscopi es pot adaptar a les condicions necessàries per a l'experiment desitjat sense requerir un re-alineament major del microscopi ni preparar noves mostres, optimitzant així el temps d'utilització de l'equip. Aquesta configuració també permet observacions a dosis electròniques (e-/Å2s) molt baixes per aquelles mostres que realment són molt sensibles al feix d'electrons.

A part del mode TEM habitual d'utilització, l'F200 inclou detectors STEM per l'adquisició d'imatges de rastreig del feix electrònic per arribar a resolucions de fins a 1.4 Å. Aquesta configuració dota al tècnic/usuari la possibilitat d'adquirir imatges en camp clar (BF), camp fosc (DF), camp clar angular (ABF), camp fosc angular (ADF ), alt angle angular de camp fosc (HAADF) i d'electrons retrodispersats, una varietat de contrasts d'imatge òptima per l'observació tan d'elements lleugers com pesants.

Aquest microscopi incorpora un detector EDX d'alta resolució energètica per tal de realitzar experiments elementals tan a nivell nanomètric com atòmic. A més a més, el seu disseny permet fer tomografies amb portamostres d'alt rang d'inclinació (±80°) i fer reconstruccions tridimensionals dels elements presents a la mostra en qüestió. Per exemple, en nanopartícules "core-shell", la part del nucli i la capa es podrien distingir tridimensionalment si tenen una composició elemental diferent. Per altra banda, la tècnica tomogràfica d'aquest microscopi habilita la reconstrucció de qualsevol tipus de partícula per avaluar la seva morfologia fins a resolucions de nivell atòmic.

Les imatges i patrons de difracció de l'F200 es capturen amb una càmera Gatan OneView de tecnologia CMOS de 4096 x 4096 píxels. La seva alta qualitat permet adquirir imatges de resolució atòmica ideals per la seva posterior avaluació i anàlisi, i patrons de difracció amb intensitats de reflexions òptimes per la determinació d'estructures cristal·lines. L'alta velocitat de captura (fins a 320 fps) és idònia per experiments in-situ en els quals vídeos a temps real mostren l'evolució de la mostra sota diferents estímuls externs (portamostres DENS disponibles d'escalfament, contacte elèctric o líquid). A més a més, la OneView també es pot utilitzar com a detector pixelat i adquirir mapes 4D-STEM (mapes on cada píxel correspon a un patró de difracció), que poden resultar en mapes de fases i/o orientació cristal·logràfiques, de tensions mecàniques, de contrast de fase diferencial (DPC en anglès), o fins i tot de camps elèctrics i magnètics.

Font d'electrons

Canó emissor de camp fred

Resolució d'energia (eV)

< 0.3

Brillantor (A/cm2)

≥ 8 x 108

Voltatges d'operació (kV)

80 i 200

TEM a 200kV

Resolució punt a punt (nm)

Rang de magnificacions

0.23 nm

x20 fins a x2M

STEM a 200kV

Resolució DF punt a punt (nm)

Resolució retrodispersats entre línies (nm)

Rang de magnificacions

0.14 nm

1.0 nm

x100 fins a x150M

Obertures de condensador (Ø µm)

200, 100, 40 i 10

Obertures d'objectiu (Ø µm)

60, 40, 30 i 5

Obertures de selecció d'àrea (Ø µm)

100, 50, 20 i 10

Senyals STEM

DF, BF, ADF, ABF, HAADF, DPC i Retrodispersats

Detector EDX Centurio (deriva de Silici)

Àrea efectiva (mm2)

Resolució d'energia (eV)

Angle sòlid total (sr)

100

133 (línia Kα del Mn)

1.05

Càmera Gatan OneView

Sensor CMOS

Mida de píxel

Velocitat de captura

Rang dinàmic

4096 x 4096 pixels

15 µm

25 fps (4k) fins a 320 fps (512x512)

16-bit

Portamostres disponibles

Estàndard (±35°)

Doble-inclinació de Beril·li (±35°, ±30°)

Tomogràfic (±80°)

DENS in-situ heat i bias (±20°, ±25°)

DENS in-situ líquid (±15°)

Sistema de neteja de mostres

Ion cleaner EC-52000IC

Programari

Pujar

La versatilitat i flexibilitat del TEM F200 permet un llarg llistat d’aplicacions on l’equip pot ser de gran utilitat:

  • Aquest projecte està cofinançat pel Fons Europeu de Desenvolupament Regional de la Unió Europea en el marc del Programa Operatiu FEDER de Catalunya 2014-2020, amb una despesa subvencionable de 1.299.000€.


RESERVA

*Ja t’has donat d’alta al Portal de l'Usuari?