Universitat Rovira i Virgili

Difracció de raigs-X

La difracció de raigs-X és una tècnica no destructiva que s’utilitza per identificar i quantificar les fases cristal·lines presents en la matèria sòlida. Els raigs-X difracten en els materials cristal·lins i produeixen difractogrames característics que actuen com a empremtes digitals de cada fase cristal·lina. El difractograma reflecteix l'estructura cristal·lina del material (disposició ordenada dels àtoms en l'espai 3D). El difractograma s'interpreta amb l'ajuda d'una base de dades.

La tècnica s'utilitza per a obtenir informació de l'estructura, la composició i l'estat dels materials policristal·lins. A banda de la identificació i quantificació de les fases cristal·lines, també s'utilitza en estudis amb temperatura variable, mesures dels paràmetres de cel·la, grau de cristal·linitat, càlcul d'esforços residuals, mosaicitat, estudis de textures i ajust d'estructures.

Bruker D8-DISCOVER

Bruker D8-ADVANCE

Pujar

Programari

Pujar

Pujar


*Ja t’has donat d’alta al Portal de l'Usuari?