Microscòpia de forces atòmiques (AFM)

• Descripció

Aquesta tècnica és útil per  elaborar amb facilitat topografies de tot tipus de materials amb resolució nanomètrica, en el pla de la superfície de la mostra, i resolució atòmica (mode STM), en la direcció perpendicular a aquesta. Processant les dades es poden  obtenir paràmetres característics de la rugositatsuperficial, gruix de capes (deposicions mitjançant sputtering) i granadària de nanopartícules o defectes sobre la mostra. 

El microscopi de forces atòmiques Agilent 5500, pot realitzar mesures en mode de contacte intermitent (tapping mode) i mode de contacte, amb la possibilitat de treballar en aire o bé en líquids (aquesta aplicació és important per a mostres biològiques). En mostres conductores també es poden realitzar mesures de conductivitat elèctrica (acoblant una punta conductora). Mitjançant l'ús de puntes magnètiques, també es poden obtenir mapes de la distribució de dominis magnètics d'una mostra. 

El seu funcionament es basa en la detecció de les minúscules forces atòmiques o moleculars d'interacció entre una punta i la superfície del material.

• Aplicacions

• Observació topogràfica per mode de contacte
• Observació topogràfica per mode acústic (tapping) per a qualsevol tipus de material: aïllants, conductors, orgànics, etc.  
• Mesura de fase (contrast composicional de diferents materials)
• Mesura de fricció
• Mesura de força elèctrica
• Mesura de potencial de superfície (Kelvin probe)
• Mesura de força magnètica
• Observació topogràfica en líquids (estudis dinàmics en mostres biològiques)
• Cambra ambiental per a mesures en atmosfera inert
• STM (microscopi d'efecte túnel)
• Mesures de resistència (mitjançant Resiscope II)
• Mesures de nanoduresa i mòdul de Young
• Nanolitografia

Pujar