Universitat Rovira i Virgili

Microscopía electrónica de barrido de alta resolución (FESEM-FIB)

El FESEM-FIB es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo que integra un haz de electrones y un haz de iones de galio focalizados.

Esta técnica sirve para la obtención de imágenes de ultra alta resolución, preparación de muestras para microscopía de transmisión y caracterización 3D de todo tipo de materiales, incluyendo también magnéticos y aislantes. Dispone de un detector de espectrometría de dispersión de energía de rayos X, un micromanipulador y 4 inyectores de gases que permiten el diseño de nano-estructuras de alta resolución o el decapado de zonas concretas.

El equipo Scios 2 de FEI Company se caracteriza por:

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  • Este proyecto está cofinanciado por el Fondo Europeo de Desarrollo Regional de la Unión Europea en el marco del Plan Estatal de Investigación Científica y Técnica e Innovación 2017-2020, con un gasto subvencionable de 826.000€.


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Noticia
Aplicaciones del FESEM-FIB