Microscopía de fuerzas atómicas (AFM)

• Descripción

Esta técnica es útil para elaborar con facilidad mapas topográficos de todo tipo de materiales con resolución nanométrica, en el plano de la superficie de la muestra, y resolución atómica (modo STM), en la dirección perpendicular a esta. Procesando los datos se pueden obtener parámetros característicos de la rugosidad superficial, grosor de capas (depósitos de capas finas mediante sputtering) y tamaño de nanopartículas o defectos de la muestra.

El microscopio de fuerzas atómicas Agilent 5500 puede realizar medidas en modo de contacto intermitente (tapping mode) y modo de contacto, con la posibilidad de trabajar en aire o bien en líquidos (esta aplicación es importante para muestres biológicas). En muestras conductoras se pueden realizar medidas de conductividad eléctrica (acoplando una punta conductora). También se pueden obtener mapas de la distribución de dominios magnéticos mediante la utilización de puntas magnéticas.

Su funcionamiento se pasa en la detección de las minúsculas fuerzas atómicas o moleculares de interacción entre una punta y la superficie del material.

• Aplicaciones

• Observación topográfica por modo de contacto
• Observación topográfica por modo acústico (tapping) para cualquiera tipo de material: aislantes, conductores, orgánicos, etc.
• Medida de fase (contraste composicional de diferentes materiales)
• Medida de fricción
• Medida de fuerza eléctrica
• Medida de potencial de superficie (Kelvin probe)
• Medida de fuerza magnética
• Observación topográfica en líquidos (estudios dinámicos en muestras biológicas)
• Cámara ambiental para medidas en atmósfera inerte
• STM (microscopio de efecto túnel)
• Medidas de resistencia (mediante Resiscope II)
• Medidas de nano-dureza y módulo de Young
• Nano-litografía

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